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    HIOKI發(fā)售阻抗分析儀IM7587

    發(fā)布時(shí)間:2016-09-28
    HIOKI(日置)發(fā)售阻抗分析儀IM7587
     可測(cè)量高達(dá)3GHz的高頻電子元件
    HIOKI這次發(fā)售了阻抗分析儀IM7587。
     在信息化發(fā)展的現(xiàn)在,智能手機(jī)等移動(dòng)設(shè)備能夠適用于LTE、Wi-Fi、GPS等,而高頻化的發(fā)展也讓其帶寬達(dá)到數(shù)GHz。同時(shí),移動(dòng)設(shè)備中所使用的高頻感應(yīng)器或鐵氧體磁珠之類的電子元件也趨于高頻化。這些電子元件需要按照從數(shù)百M(fèi)Hz到數(shù)GHz的高頻來(lái)進(jìn)行特性評(píng)估,所以高頻的測(cè)量?jī)x器的需求也隨之增加。
     這次發(fā)售的機(jī)型是可以進(jìn)行比去年IM7585(最高可測(cè)1.3GHz的高頻)更高頻率測(cè)量的產(chǎn)品。IM7587的測(cè)量頻率達(dá)到了1MHz~3GHz,能夠完全滿足現(xiàn)在高頻電子元件的測(cè)量?jī)x器。
    產(chǎn)品特點(diǎn)
    1.可進(jìn)行最高3GHz的穩(wěn)定的高頻測(cè)量  
    IM7587的測(cè)量頻率是1MHz~3GHz。在改變頻率的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進(jìn)行偏差較小的穩(wěn)定的阻抗評(píng)估,因此能夠從電子元件的開發(fā)到生產(chǎn)線上等各種領(lǐng)域內(nèi)使用。
    2.最短0.5ms的高速測(cè)量,有助于提高生產(chǎn)性  
    最短0.5ms(0.0005秒)的高速測(cè)量。因此,對(duì)于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產(chǎn)廠家來(lái)說(shuō),大幅提高了生產(chǎn)效率。
    3.主機(jī)尺寸小巧,降低生產(chǎn)成本  
    和去年發(fā)售的IM7580系列同樣小巧、輕便。電子元件生產(chǎn)廠家的生產(chǎn)線中,可以實(shí)現(xiàn)為了提高空間效率的檢查系統(tǒng)的小型化,以及通過(guò)同時(shí)安裝多臺(tái)來(lái)縮短檢查時(shí)間,從而降低生產(chǎn)成本。而且,這類測(cè)量?jī)x器非常的輕巧方便攜帶,能夠在研發(fā)、品保、生產(chǎn)線等多種場(chǎng)合同時(shí)使用,放在桌上也不會(huì)占太多空間。
    4.各種判定功能,判斷合格與否  
    單一頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀模式下,有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設(shè)置上下限值,并以其為判斷標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行合格與否的判斷。相對(duì)于以1個(gè)判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷合格與否的比較器功能,BIN功能最多可以設(shè)置10種判斷標(biāo)準(zhǔn),并進(jìn)行排名。
     多種頻率測(cè)量的分析模式下,有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區(qū)域判定、峰值判定。區(qū)域判定是確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判定是判定共振點(diǎn)的功能。
     另外,還具有任意設(shè)置多種頻率,并以此設(shè)定值為基礎(chǔ)判斷合格與否的點(diǎn)判斷功能。
    5.可以搭配SMD治具IM9201  
    我司今年7月發(fā)售了研發(fā)、品保部門中必須的SMD用治具(IM9201)。IM9201是適用于高頻電子元件的測(cè)量治具,最高可測(cè)3GHz。和IM7587組合使用,能夠在這類電子元件測(cè)量中發(fā)揮威力。
    基本參數(shù)
    基本精度 Z:0.65%rdg.θ:0.38(代表值)
     測(cè)量時(shí)間 最短0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間)
     測(cè)量范圍 100mΩ~5kΩ
     測(cè)量頻率 1MHz~3GHz
     測(cè)量信號(hào)電平 -40.0dBm~+1.0dBm(4mV~502mV)
    主要用途
    電子元件生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的出貨檢查和特性評(píng)估
     電子設(shè)備生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的驗(yàn)貨檢查和特性評(píng)估
     高校研究所內(nèi)的電子元件的特性評(píng)估

    上述內(nèi)容為發(fā)售當(dāng)日的信息。之后可能會(huì)有參數(shù)等變更的情況,請(qǐng)了解

    如果您想了解關(guān)于更多信息,請(qǐng)E-mail至info@hioki.com.cn

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